半導(dǎo)體材料品質(zhì)檢測設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹

發(fā)布日期：2022-04-24      瀏覽次數(shù)：1179

半導(dǎo)體材料品質(zhì)檢測設(shè)備之目視檢查燈YP-150I介紹

 

是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中費人工的成形製品表面
的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

概要

　　1.　可照明様品表面範囲於400.000Lx以上。

　　2.　因使用鹵素光源燈的光源，具有色溫度高、光照不均的減少及非常穏定鋭利照明的特性。


　　3.　冷反射鏡受熱影響是鋁鏡的1/3


　　4.　二段切換構(gòu)造，可用按扭切換高照明観察及低照明観察。

日本sena lamp高照度鹵素強光燈185FI手機屏幕檢查燈

 

高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。

標準構(gòu)成如下。

照度：照射距離　310mm、照射直徑徑　55mmφ時照度在　400，000　Lux以上）

光源：直流點燈　17V/185W　鹵素?zé)?/p>

照度調(diào)整：連續(xù)可調(diào)至照度的　20%

冷卻方式：強制空冷

使用溫度范囲：0～40℃

電源電圧：AC　95V～AC　260V，50/60Hz

功率：250W

尺寸：光源　136mm　H×112mm　W×150mm　D

電源　229mm　H×90mm　W×250mm　D

重量：光源2.3kg

電源3.6kg

立桿5.0kg