日本horiba手高光澤度檢查儀IG-410

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高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型，可方便地進(jìn)行現(xiàn)場工作，并且只需將與顯示單元分開的測量單元應(yīng)用于被攝體即可進(jìn)行測量。使用近紅外線作為光源，并測量了1000的光澤度（鏡面反射率100）。

無需預(yù)熱。對于需要高表面光澤度的產(chǎn)品（例如用于汽車前燈的照明反光器，用于復(fù)印機(jī)的反光器和硅片）的質(zhì)量控制而言，它是理想的選擇。

特征

• 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
  也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域，是光澤度檢查儀IG系列的新產(chǎn)品。測量范圍是0到100，是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。

• 緊湊輕巧的設(shè)計(jì)，易于現(xiàn)場測量
  重量僅為350g，易于攜帶。由于是一鍵式操作，因此可以將其帶到生產(chǎn)現(xiàn)場以方便測量。
  由于將LED用作光源，因此無需擔(dān)心光源的壽命。

• 可以通過
  在2個(gè)范圍之間切換來測量低光澤度，可以在0到100和0到100的2個(gè)范圍之間切換。每個(gè)范圍都帶有自己的校準(zhǔn)板。
  IG-410不僅可以測量高光澤度金屬，還可以測量低光澤度區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品。

應(yīng)用實(shí)例

• 用于檢查金屬產(chǎn)品表面狀況的光潔度

• 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀

• 用于檢查電鍍產(chǎn)品的外觀

• 用于檢查硅片的表面光潔度

*由于光澤度是通過光的反射來測量的，因此測量點(diǎn)必須平坦。

日本horiba手高光澤度檢查儀IG-410

規(guī)范