国产精品亚洲欧美日韩,日韩精品成人久久久,国产欧美日韩另类久久,成年人午夜在线免费视频

產(chǎn)品展示
PRODUCT DISPLAY
產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 物理性能檢測(cè) > 厚度檢測(cè) >日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200 測(cè)厚儀

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200 測(cè)厚儀

訪問次數(shù)：2569

更新日期：2024-03-17

簡(jiǎn)要描述：

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200
非接觸式平面度/厚度測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200 測(cè)厚儀
類型數(shù)字式測(cè)量范圍1

日本napson晶圓平整度測(cè)量厚度檢測(cè)FLA-200

產(chǎn)品特點(diǎn)

非接觸式平面度/厚度測(cè)量系統(tǒng)。測(cè)量晶片樣品的平整度（TTV，BOW，WARP）和厚度。

  • -支持測(cè)量厚度，TTV，BOW，翹曲，場(chǎng)地平面度和整體平面度（符合ASTM）
  • ?支持2-D和3-D映射顯示的軟件
  • ?數(shù)據(jù)可以輸出為CSV文件
  • ?使用5mmφ芯線電容式探頭進(jìn)行高精度測(cè)量
  • ? 60秒內(nèi)進(jìn)行12,000點(diǎn)掃描/高速測(cè)量

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

?半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池材料相關(guān)（硅，多晶硅，SiC等）
?硅基外延，離子注入樣品
?化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）

測(cè)量尺寸

3-8英寸

測(cè)量范圍

厚度：200 –1200μm
弓形：+/- 350μm
翹曲：350μm

留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細(xì)地址：

  • 補(bǔ)充說(shuō)明：

  • 驗(yàn)證碼：

    請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

聯(lián)系方式
  • 電話

  • 傳真

在線交流
宜城市| 阜平县| 泗洪县| 玛多县| 孟津县| 南木林县| 湟中县| 信阳市| 北票市| 定远县| 苍南县| 峨眉山市| 福鼎市| 耒阳市| 泉州市| 台北县| 托克逊县| 五河县| 阳春市| 年辖：市辖区| 土默特右旗| 瑞丽市| 中西区| 湛江市| 阳江市| 临潭县| 石泉县| 房产| 淳安县| 交口县| 洪雅县| 隆林| 沙河市| 甘德县| 汨罗市| 密山市| 林州市| 深水埗区| 长子县| 广水市| 宿松县|