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日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 光學測量儀

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更新日期:2024-03-25

簡要描述:

日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410
IG-410 可用于測量超高光澤表面,如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍,甚至連鏡面也可以測量。

日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 光學測量儀
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日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 

總覽

高光澤度光澤度檢查儀IG-410是一種方便使用的類型,可方便地進行現(xiàn)場工作,并且只需將與顯示單元分開的測量單元應用于被攝體即可進行測量。使用近紅外線作為光源,并測量了1000的光澤度(鏡面反射率100)。

無需預熱。對于需要高表面光澤度的產品(例如用于汽車前燈的照明反光器,用于復印機的反光器和硅片)的質量控制而言,它是理想的選擇。

IG-410 可用于測量超高光澤表面,如拋光金屬。該儀表的測量范圍是傳統(tǒng)型號的十倍,甚至連鏡面也可以測量。

重量僅為350克(1.3磅),電池驅動,儀器更為便攜。通過簡單的一鍵式操作可進行快速可靠的測量。LED光源的使用壽命<100000小時,因此無需更換零件。

IG-410 有兩個可供用戶選擇的測量范圍,具體取決于待測量的樣品。低光澤樣品可使用0 ~100范圍測量,高光澤樣品可使用0 ~ 1000范圍測量。提供兩個校準板,方便用戶使用簡單的一鍵式校準程序,以確保結果的再現(xiàn)性。

特征

  • 甚至在金屬等高光澤區(qū)域
    也可以量化“模糊度" IG-410可以測量金屬等高光澤區(qū)域,是光澤度檢查儀IG系列的新產品。測量范圍是0到100,是傳統(tǒng)型號的10倍。也可以測量鏡面樣品。

  • 緊湊輕巧的設計,易于現(xiàn)場測量
    重量僅為350g,易于攜帶。由于是一鍵式操作,因此可以將其帶到生產現(xiàn)場以方便測量。
    由于將LED用作光源,因此無需擔心光源的壽命。

  • 可以通過
    在2個范圍之間切換來測量低光澤度,可以在0到100和0到100的2個范圍之間切換。每個范圍都帶有自己的校準板。
    IG-410不僅可以測量高光澤度金屬,還可以測量低光澤度區(qū)域,例如涂在金屬板上的樣品。

應用實例

  • 用于檢查金屬產品表面狀況的光潔度

  • 用于檢查軋制鋁板和不銹鋼板的外觀

  • 用于檢查電鍍產品的外觀

  • 用于檢查硅片的表面光潔度

*由于光澤度是通過光的反射來測量的,因此測量點必須平坦。

日本horiba鏡面樣品光澤度檢測IG-410 

規(guī)范

光學系統(tǒng)

入射角60°-接收角60°

測量面積

3 x 6毫米橢圓

光源

LED(波長890nm)

受光部

SPD(硅光電二極管)

測量范圍
(顯示分辨率)

100范圍:
0.00至10.0(顯示分辨率0.1)1000范圍:0至100(顯示分辨率1)

重復性

滿量程的±1%

電源供應

AA干電池x 4

電池壽命

200小時以上(使用堿性干電池)

工作溫度極限

10-40℃

尺寸

機身:75W x 34D x 140H mm
傳感器:30W x 45D x 88H mm

大眾

約350g(帶內置電池)

其他功能

自動校準,自動關機
范圍切換顯示(100/1000)超量程
顯示,電池電量顯示
測量值保持
校準值設置

配件

用于100和1000量程的校準標準板









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