訪問次數(shù):983
更新日期:2024-03-18
簡要描述:
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851配備自動對焦選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢
類型 | 數(shù)字式 | 測量范圍 | 1 |
---|
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851
配備自動對焦
選擇兩種測量模式以使測量工作更順暢
?自動測量模式
⇒將要測量的物體放在激光筆照射位置,關(guān)門時,載物
臺將自動移動并自動進行測量。
-手動測量模式
⇒類似于上面的自動測量模式,當設(shè)置了要測量的物體并且
門關(guān)閉時,載物臺會自動移動甚至聚焦
多測量/多校準線
記錄坐標并從激光指示器的照射位置自動測量多個點。
可以使用不同的校準線測量多個點。
自動對焦
只需將測量單元對準激光指示器的位置,然后關(guān)上門即可自動移至測量值并執(zhí)行測量。
測量后,打開門,載物臺將自動返回到前面。
采用雙重過濾器
通過使用除中性過濾器之外的機械過濾器(雙重過濾器),可以在z佳條件下進行測量,從而始終獲得z高的精度。
增強的報告創(chuàng)建功能
通過采用MS-Windows軟件,您可以輕松捕獲測量屏幕并增強報告創(chuàng)建功能。
使用多任務(wù)功能,即使在測量過程中,也可以進行包括報告創(chuàng)建在內(nèi)的其他處理。
內(nèi)置5種準直儀
z小準直儀為0.1φmm,可測量極小的零件。
標準0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外,有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5
自診斷功能和X射線管維護功能
自診斷功能會立即采取措施解決設(shè)備問題。
另外,增加了X射線管的使用時間和耐用時間顯示功能,以確保維護安全。
膜厚測量中的頻譜顯示
多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。(處理速度約2至3秒)
顯示測量單元監(jiān)控圖像
將X射線照射部件導(dǎo)入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。
準直儀實現(xiàn)改變尺寸的放大率改變功能。
可視化顯示被測物的鍍層附著力分布
3D圖形顯示使您可以一目了然地檢查被測物體的鍍層厚度分布。
Be窗口X射線管(選件)提高的性能(高精度)
我們已經(jīng)為熒光X厚度計準備了Be窗口X射線管。
通過使用Be窗口X射線管,顯著提高了Cr測量和Ni測量的重復(fù)測量精度。
與標準X射線管的比較
高能量(高原子序數(shù))Sn等的測量與以前相同。
當測量低能量(低原子序數(shù))的Cr和Ni時,重復(fù)精度提高了Cr約3倍,Ni約2倍。
當測量兩層時,中間層Ni的測??量精度提高了約20%。
通過使用Be窗X射線管,在Cr的情況下,與常規(guī)標準機器相比,可以獲得約9倍或更大的熒光X射線強度。
因此,可以在短時間內(nèi)以與以前相同的精度進行測量。
請考慮使用此Be窗口X射線管。
日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-851
EX-851 | 測量臺尺寸(mm) | 200 x 200 | |
運動量 | X(毫米) | 200 | |
Y(毫米) | 200 | ||
Z(毫米) | 90 | ||
被測物高度(mm) | 90 | ||
尺寸(毫米) | 740(W)x 530(D)x 660(H)*不包括突起 | ||
重量(公斤) | 85 | ||
樣品負荷(公斤) | 1個 | ||
電腦 | 尺寸(毫米) | 主機182(W)x 383(D)x 372(H) | |
重量(公斤) | 主機6.8 /顯示器2.8 | ||
打印機 | 重量(公斤) | 3.4 3.4 | |
電源供應(yīng) | AC100V±10V |