日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731

憑借出色的可操作性，
即使對于大型板，也可以以z高的精度測量極小的零件。

-采用雙重過濾器，可實現z高精度和z佳條件
的測量
-通過將鼠標移至測量位置來實現快速對準-多任務功能可進行其他處理，甚至在測量過程中也可創(chuàng)建報告-
z小準直儀為0.05φmm，可以測量非常小的零件

熒光X射線膜測厚儀EX-731的特點

采用雙重過濾器

通過使用除中性過濾器之外的機械過濾器（雙重過濾器），可以在z佳條件下進行測量，從而始終獲得z高的精度。

自動測量階段

通過將鼠標對準測量位置實現快速對準。另外，如果注冊測量位置，則可以進行連續(xù)自動測量。通過坐標校正和通道鏈接支持各種模式。標準板校準也可以自動測量。

增強的報告創(chuàng)建功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并增強報告創(chuàng)建功能。使用多任務功能，即使在測量過程中，也可以進行包括報告創(chuàng)建在內的其他處理。

內置5種準直儀

z小準直儀為0.1φmm，可測量極小的零件。標準0.1、0.2、0.5、1.0、2.0
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
? 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
? 0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

自診斷功能可以迅速解決設備問題。另外，增加了X射線管的使用時間和耐用時間顯示功能，以確保維護安全。

膜厚測量中的頻譜顯示

多通道光譜分析高速處理使簡單的操作可以顯示被測物體的光譜。（處理速度約2至3秒）

顯示測量單元監(jiān)控圖像

將X射線照射部件導入Windows屏幕并顯示X射線照射部件。準直儀實現改變尺寸的放大率改變功能。

可視化顯示被測物的鍍層附著力分布

三維圖形顯示使查看被測物的鍍層厚度分布變得容易。

 日本電測densoku熒光X射線膜測厚儀EX-731

熒光X射線膜厚計EX-731的規(guī)格